IEC 60747-8-1984 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管
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时间:2024-05-03 06:25:54
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【英文标准名称】:Semiconductordevices.Discretedevices.Part8:Field-effecttransistors
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管
【标准号】:IEC60747-8-1984
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;极限(数学);集成电路;测量;半导体;电气工程;晶体管;电子设备及元件;场效应晶体管;检验;作标记;规范(批准);电子工程;定义;额定值
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L44;L40
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:91P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管
【标准号】:IEC60747-8-1984
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;极限(数学);集成电路;测量;半导体;电气工程;晶体管;电子设备及元件;场效应晶体管;检验;作标记;规范(批准);电子工程;定义;额定值
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L44;L40
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:91P;A4
【正文语种】:英语
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