ASTM E 1161-1995 半导体和电子元件的放射性的测试方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-21 18:51:34
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforRadiologicExaminationofSemiconductorsandElectronicComponents
【原文标准名称】:半导体和电子元件的放射性的测试方法
【标准号】:ASTME1161-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;无损检验;放射性试验;元部件;金属;金相学;电气工程;试验
【英文主题词】:non-destructivetesting;metallography;semiconductors;testing;electricalengineering;metals;components;radiographictesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体和电子元件的放射性的测试方法
【标准号】:ASTME1161-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;无损检验;放射性试验;元部件;金属;金相学;电气工程;试验
【英文主题词】:non-destructivetesting;metallography;semiconductors;testing;electricalengineering;metals;components;radiographictesting
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语
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